Chip on Submount/CoS-Prüfplatz

Aufgabe

Duplizierung und grundlegende Modernisierung eines bestehenden Chip on Submount/CoS-Prüfplatzes. Konzeption und Neuentwicklung der Steuersoftware. Implementierung neuer flexibler Mechanismen zur Erstellung von Prüfabläufen.

Anforderungen

  • Zugriffskontrolle durch Benutzername/Passwort
  • Zwei Benutzerebenen
  • Doppelt ausgelegte Hardware zur gleichzeitigen Vermessung von jeweils 2 Laserdioden
  • Anbindung der Software an die Datenbank des Auftraggebers
  • Freie Konfiguration von Prüfabläufen in Form von Rezepten (Abfolge von komplexen Prüfschritten)
  • Parallele Ansteuerung der doppelt ausgelegten Hardware
  • Visualisierung der aufgenommenen Kennlinien und der daraus berechneten Eckdaten
  • Defekte Laserdioden werden nicht weiter vermessen, um Zeit zu sparen
  • Kennlinien und Eckdaten werden in der Datenbank abgelegt; sie begleiten die zugehörige Laserdiode durch den weiteren Produktionsprozess
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Messdatenerfassung mit zwei Switch System 3706 (Keithley Instruments), zwei Ulbrichtkugeln und Optical Spectrum Analyzer/OSA AQ6370 (Yokogawa) mit optischem Umschalter EOL 1x2 (IOTech). Steuerung durch zwei Linearachsen XPS (Newport), Temperaturcontroller 2510AT und zwei Sourcemeter 2602A (jeweils Keithley Instruments).