Einrichtung eines halbautomatischen Testplatzes in der Endprüfung von bestückten Leiterplatten. Automatisches Testen von Funktionsgruppen. Bereitstellung von manuellen Eingreifmechanismen für Debugging.
Softwareentwicklung und Programmierung in LabWindows/CVI (National Instruments). Gruppierung der Einzeltests auf separaten Registerkarten. Verwendung eines vereinheitlichten Erscheinungsbildes; dadurch ist kein Umlernen bei der Adaption eines anderen Prüflingstyps notwendig. Anzeige des Gesamtstatus.