Projektreferenzen (LabVIEW)

Projektreferenzen (LabVIEW)

In der Bandbreite unserer Projektreferenzen, die mit LabVIEW realisiert wurden, spiegelt sich das enorme Potenzial und die Vielfältigkeit dieser Entwicklungsumgebung wider. Ob für den PC oder als Echtzeitsystem, ob in der Forschung oder in der Fertigung - die Anwendungsmöglichkeiten von LabVIEW sind scheinbar grenzenlos. Das dabei erworbene Know-How geben wir bei unserer LabVIEW Programmierung und Softwareentwicklung und unseren LabVIEW-Schulungen gern an Sie weiter.

OPC-Sequenzer

OPC-Sequenzer

Dieses kopiergeschützte Programmpaket wird in die LabVIEW-Entwicklungsumgebung eingebunden und nutzt u.a. VI-Skripting und unveröffentlichte LabVIEW-Funktionalitäten zur Erstellung und Ausführung von benutzerspezifischen Sequenzen für die Gerätesteuerung über die OPC-Schnittstelle. Der Sequenzablauf wird animiert dargestellt und kann vom Benutzer direkt beeinflusst werden (Pause / Überspringen etc.).

Anforderungen

  • Variables Lizenzierungsmodell (unbegrenzt, einmalige Nutzung, befristet nach Zeitraum oder Datum, PC-basierter Kopierschutz)
  • Benutzerverwaltung (Name, Passwort)
  • Nahtlose Einbindung in die LabVIEW-Entwicklungsumgebung (mit eigener Funktions- und Kontroll-Palette)
  • Verwendung von VI-Skripting und undokumentierten LabVIEW-Funktionalitäten ("SuperSecretPrivateSpecialStuff")
  • Vollkommen freie Erstellung von Abläufen ("Sequenzen") in Form spezieller VIs mit eigener Oberfläche
  • Polymorphe VIs als Sequenzschritte, eingebunden in die Funktions-Palette (Istwert lesen, auf Istwert warten, Sollwert schreiben, Sollwert-Rampe, auf Variable warten, Variable schreiben, Schnappschuss mehrerer Messwerte, E-Mail versenden etc.)
  • Zusammenfassung mehrerer Sequenzschritte als Sub-Sequenz
  • Spezielle Oberflächenelemente zur Visualisierung der aktuellen Messwerte, eingebunden in die Kontroll-Palette
  • Diverse Assistenten zur Unterstützung des Anwenders bei der Sequenz-Erstellung
  • OPC-Browser zur Ermittlung der korrekten OPC-URL sowie zum Lesen / Schreiben der aktuellen Werte ohne Programmieraufwand
  • Konfiguration des OPC-Zugriffs (Bezeichner, Zugriff, Datentyp, Einheit, zulässige Ober- / Untergrenze, Umrechnungen etc.) per Textdatei
  • Automatische Verifizierung dieser Konfigurationsdatei
  • Automatische Erstellung von strikten LabVIEW-Typdefinitionen (*.ctl) passend zur aktuellen OPC-Konfiguration
  • Abschließende automatische Verifizierung der erstellten Sequenz
  • Animation der Sequenzdarstellung während der Ausführung (Sequenzschritt aktiv mit Laufzeit und Restlaufzeit / IO / NIO / Warnung)
  • Direkte Einflussnahme auf die Ausführung (Pause, Schrittbetrieb, Schritt überspringen, Sequenz vorzeitig kontrolliert beenden, Sequenz abbrechen)
  • Gleichzeitige Ausführung mehrerer Sequenzen parallel
LabVIEW-Applikation

Lösung

Versionsspezifische Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Durch die Umsetzung der Sequenzen als VIs kann der gesamte Funktionalitätsumfang von LabVIEW zu deren Erstellung herangezogen werden (inkl. der parallelen Ausführung von Sequenzschritten). Bis zu acht Sequenzen können gleichzeitig ausgeführt werden.

Prüfplatz für organische Halbleiter (OLED, OFET, OPV)

Prüfplatz für organische Halbleiter (OLED, OFET, OPV)

An diesem Prüfplatz werden organische Leuchtdioden (OLED), organische Feldeffekttransistoren (OFET) sowie organische Photovoltaikelemente (OPV) untersucht und charakterisiert. Mittels frei definierbarer Spannungsrampen und Langzeituntersuchungen bei konstanten Bedingungen werden für diese Bauelemente der Organischen Elektronik die Kennlinien ermittelt, ausgewertet und dargestellt.

Anforderungen

  • Komplexe Ansteuerung und Programmierung eines Keithley 2636A System SourceMeter zur Generierung von ineinander verschachtelten Rampen auf zwei Kanälen
  • Einheitliche Oberflächen für unterschiedliche Betriebsmodi der Software (OLED, OFET, OPV, allgemeine U/I-Kennlinie)
  • Automatische Berechnung von Kenndaten
  • Erstellung von Reports mit Darstellung der ermittelten Kennlinien
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Stimulation und Messdatenerfassung mit 2636A System SourceMeter (Keithley Instruments), angesteuert über Ethernet (TCP/IP), programmiert in Lua. Speicherung der Messergebnisse in gegliederten ASCII-Dateien.

Taxi-Prüfstand

Taxi-Prüfstand

Jeder Taxi-Fahrgast erwartet eine korrekte Ermittlung des Fahrpreises. Diesen berechnet und visualisiert der in das Fahrzeug eingebaute Fahrpreisanzeiger (Taxameter) anhand der gefahrenen Kilometer sowie der Stillstandzeiten. Diese Taxameter müssen regelmäßig geeicht und auf ihre ordnungsgemäße Funktionsweise überprüft werden. Die drei dafür eingesetzten Rollenprüfstande des Landesamts für Mess- und Eichwesen Berlin-Brandenburg werden messtechnisch grundlegend modernisiert und ihre Bedienung wesentlich vereinfacht.

Anforderungen

  • Ersetzen der alten Anzeigetableaus (7-Segment-Großanzeigen mit LEDs) durch moderne Großbildschirme
  • Ersetzen der alten Auswerteelektronik durch Industrie-PCs, gesteuert mit LabVIEW
  • Einsatz modernster modularer Messtechnik
  • Integration eines zusätzlichen Displays in die Bedieneinheiten
  • Hohe Robustheit und Ausfallsicherheit
  • Einfachste Bedienbarkeit
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Einsatz von CompactDAQ-Systemen mit NI cDAQ-9174 (Chassis), NI 9411 (Encoder), NI 9421 (8 x DIN) und NI 9472 (8 x DOUT). Einbau zusätzlicher LCD-Displays EA DYN4016 (Electronic Assembly) in die Bedienpulte, angesteuert über RS232 / RS485.

Doppelsubstitutions-Prüfplatz

Doppelsubstitutions-Prüfplatz

Dieser Prüfplatz dient zur halbautomatischen Durchführung einer Mikrofonkalibrierung. Nach dem Prinzip der Doppelsubstitution wird dabei das zu kalibrierende Mikrofon mit einem Referenzmikrofon bei verschiedenen einstellbaren Schallpegeln und Frequenzen verglichen. Der Versuch wird in einem schalltoten Raum durchgeführt.

Anforderungen

  • Nahtlose Integration von Microsoft Excel zur Konfiguration des Prüfablaufs und Darstellung der Messergebnisse
  • Ansteuerung von DMM, Funktionsgenerator und Drehtisch
Fertiger Prüfplatz mit laufender LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Ansteuerung des DMM 2000 (Keithley Instruments) über GPIB, des Verstärkers Nexus 2690-OS2 (Brüel & Kjaer) über RS232, des Funktionsgenerators NI PCI-5411 (National Instruments) sowie eines alten Drehtisches (Robotron).

Rollstuhl-Simulator

Rollstuhl-Simulator

Erleben Sie die alltäglichen Herausforderungen eines in seiner Mobilität eingeschränkten Menschen. Im Science Center Medizintechnik in Berlin können Sie auf einem Rollstuhl-Simulator virtuell einen Parcours am Brandenburger Tor mit Rampen, Brücken, Bordsteinkanten und Pylonen absolvieren. Um für das Publikum eine hohe Verfügbarkeit des Simulators zu gewährleisten und gleichzeitig die Wartung der Software zu vereinfachen, wird die Steuerungssoftware von Grund auf erneuert.

Anforderungen

  • Optimierung der Ansteuerung der Pneumatikplattform für die Simulation von Neigung und Beschaffenheit der Fahrbahn
  • Optimierung der Ansteuerung und Datenauswertung des Force-Feedback-Systems für die Simulation des neigungsabhängigen Rollwiderstands der einzelnen Räder
  • Optimierung der Ansteuerung und Auswertung der 3D-Visualisierung des Parcours
  • Laufzeitoptimierung der Regelalgorithmen für eine noch realistischere Simulation
  • Hohe Ausfallsicherheit
  • Einfachste Bedienbarkeit
  • Funktionsüberwachung mit intelligentem Echtzeit-Watchdog
  • Fernwartbarkeit der Software
Mit LabVIEW und LabVIEW Real-Time/RT gesteuerter Rollstuhl-Simulator

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW für den PC und in LabVIEW Real-Time/RT für das FieldPoint-System (beides National Instruments). Kommunikation zwischen den einzelnen Modulen via Ethernet (TCP/IP). Erreichte Regelzykluszeit: 15ms.

Erwärmungsprüfstand für Schaltgeräte und Schaltanlagen

Erwärmungsprüfstand für Schaltgeräte und Schaltanlagen

Schaltgeräte und Schaltanlagen müssen auf ihre punktuelle Erwärmung im Dauerbetrieb überprüft werden. Dieser Prüfstand erlaubt es, einen Prüfling mit Strömen bis zu 10000 A zu beaufschlagen und die Temperatur an bis zu 100 Punkten zu überwachen. Bei der Überschreitung vorher eingestellter Grenzwerte wird die Prüfung automatisch abgebrochen.

Anforderungen

  • Unbeaufsichtigter Prüfablauf
  • Datenauswertung der Temperaturverläufe von bis zu 100 Thermoelementen
  • Steuerung der Hochstromquelle über digitale Signale sowie einen 4-20 mA - Ausgang
  • Monitoring der aktuellen Stromstärke
  • Ermittlung des Grenzstroms für eine vorgegebene zulässige Erwärmung
  • Umfangreiche graphische und tabellarische Datenvisualisierung während und nach einem Prüfablauf
  • Abspeichern der Messdaten als ASCII-Datei
  • Erstellung eines Protokolls zum Ausdrucken
  • Handbetrieb zur manuellen Kontrolle der Hardware
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Ansteuerung des Switch System 3706 (Keithley Instruments) via Ethernet zum Auslesen von bis zu 100 Thermoelementen und zur Steuerung der Hochstromquelle (Ruhstrat). Komfortable Datenvisualisierung und Protokollerstellung.

Chip on Submount / CoS-Prüfplatz

Chip on Submount / CoS-Prüfplatz

Ein bestehender Chip on Submount / CoS-Prüfplatz zur Ermittlung von Laserdioden-Kennlinien und -Eckdaten wird dupliziert und dieses Duplikat konzeptionell sowie messtechnisch grundlegend modernisiert. Das Ergebnis ist ein benutzerfreundlich bedienbarer Prüfplatz, der eine effiziente und schnelle Vermessung von Laserdioden ermöglicht.

Anforderungen

  • Zugriffskontrolle durch Benutzername/Passwort
  • Zwei Benutzerebenen
  • Doppelt ausgelegte Hardware zur gleichzeitigen Vermessung von jeweils 2 Laserdioden
  • Anbindung der Software an die Datenbank des Auftraggebers
  • Freie Konfiguration von Prüfabläufen in Form von Rezepten (Abfolge von komplexen Prüfschritten)
  • Parallele Ansteuerung der doppelt ausgelegten Hardware
  • Visualisierung der aufgenommenen Kennlinien und der daraus berechneten Eckdaten
  • Defekte Laserdioden werden nicht weiter vermessen, um Zeit zu sparen
  • Kennlinien und Eckdaten werden in der Datenbank abgelegt; sie begleiten die zugehörige Laserdiode durch den weiteren Produktionsprozess
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Messdatenerfassung mit zwei Switch System 3706 (Keithley Instruments), zwei Ulbrichtkugeln und Optical Spectrum Analyzer / OSA AQ6370 (Yokogawa) mit optischem Umschalter EOL 1x2 (IOTech). Steuerung durch zwei Linearachsen XPS (Newport), Temperaturcontroller 2510AT und zwei Sourcemeter 2602A (jeweils Keithley Instruments).

Schleudertest Turbinenscheiben

Schleudertest Turbinenscheiben

Ein bestehender Prüfstand für Turbinenscheiben, die in Flugzeugtriebwerken eingesetzt werden, wird messtechnisch aufgerüstet und ausgebaut. Das Ergebnis ist ein frei konfigurierbarer 100-kanaliger Datenschreiber, der darüber hinaus in der Lage ist, den Druck innerhalb des Prüfstands an mehreren Stellen durch PID-Regelung konstant zu halten.

Anforderungen

  • Datenschreiber für 100 Kanäle
  • Überprüfung der Kanäle auf Einhaltung der frei definierbaren Grenzwerte
  • Voneinander unabhängige PID-Regelung von 4 Proportionalventilen zur Druckeinstellung
  • Fahren einer Abschaltsequenz bei Systemfehler
  • Aufwändige graphische und tabellarische Darstellung der Messdaten während des Prüfablaufs und danach
  • Tageweises Abspeichern der Messdaten
  • Diagrammausdruck
  • Tabellenausdruck
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Einlesen der Datenkanäle mit dem Switch System 2750 (Keithley Instruments) und der PC-Messkarte NI PCI-6229 (National Instruments). Implementierung umfangreicher Darstellungsoptionen.

Collinear-Messplatz

Collinear-Messplatz

Dieser Messplatz wird zur Widerstandsbestimmung von Halbleiterproben verwendet. Das Messprinzip basiert auf der 4-Punkt-Methode und berechnet anhand der Probengeometrie nach dem Superpositionsgesetz den spezifischen Flächenwiderstand.

Anforderungen

  • Bedienbarkeit der Software durch angelerntes Personal; keine Spezialkenntnisse notwendig
  • Oberfläche, Dialoge und Dokumentation komplett in englischer Sprache
  • Probenparameter konfigurierbar
  • Durchführung von Einzel- und Dauermessungen; Intervall, Dauer, Mittelung und Genauigkeit konfigurierbar
  • Graphische Darstellung der aufgenommenen Messwerte mit Zoom- und Verschiebewerkzeug
  • Tabellarische Darstellung der aufgenommenen Messwerte mit Kommentar und Zeitstempel
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Einlesen der Messwerte mit dem DMM 2000 (Keithley Instruments). Einfachste Bedienbarkeit der Software.

Modul-Automat

Modul-Automat

Nahtlos in den Produktionsprozess integriert, gleicht dieser Prüfstand die Quarze von Schaltmodulen unterschiedlichster Baureihen für die Hausautomation ab. Das flexible Softwarekonzept erlaubt es dem Kunden dabei, jederzeit neue Prüfabläufe zu entwerfen und diese dynamisch einzubinden.

Anforderungen

  • Berücksichtigung verschiedenster Aspekte eines Produktions-Teilprozesses (Taktzeiten, Fehlersicherheit etc.)
  • Vollkommen freie Erstellung von neuen Prüfanweisungen für z.Zt. noch unbekannte zukünftige Geräteserien
  • Handbetrieb / Selbsttest zur regelmäßigen Überprüfung der Funktionalität des Prüfplatzes
  • Anzeige des Prüffortschritts sowie qualitative Beurteilung des Abgleichvorgangs; Ausschleusen defekter Geräte
  • Kommunikation mit der übergeordneten SPS
Prüfplatz mit LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Steuerung und Messdatenerfassung mit Digital I/O-Karte PCI-7432 (AdLink), Relaiskarte ME-630 (Meilhaus), DMM 6001 (Prema) via GPIB, Doppelnetzteil 8842 (Toellner) via GPIB und Universalzähler 6720 (Toellner) via GPIB. Dynamische Einbindung von Prüfabläufen, die als VI frei erstellt werden können.

In-situ-Messplatz (200 Kanäle), in Klimaschrank integriert

In-situ-Messplatz (200 Kanäle), in Klimaschrank integriert

Dieser Prüfstand ermöglicht Langzeit-Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften von Lötverbindungen in einem Dreikammer-Klimaschrank auf bis zu 200 Kanälen gleichzeitig. Temperaturen zwischen -70 °C und +250 °C können mit diesem System angefahren werden.

Anforderungen

  • Zeitnahe Erfassung von bis zu 200 Kanälen je Messzyklus
  • Zeit- und/oder temperaturgetriggerte In-situ-Messzyklen mit äußerst flexiblen Triggerbedingungen
  • Individuelle Parametrierung jedes einzelnen Messkanals
  • Frei wählbarer Prüfstrom (1 mA - 1 A)
  • Optionale Beaufschlagung der Prüflinge mit Prüfstrom während des gesamten Messvorgangs zur zusätzlichen Stressung
  • Anzeige sowie qualitative Beurteilung der Messergebnisse (graphisch und tabellarisch) während des Messvorgangs und danach
  • Safety Fallbacks zur Behandlung von Systemfehlern (Stromausfall, Not-Aus etc.)
  • Abspeichern der Messdaten als ASCII-Datei
  • Erstellung der Software als eigenständige Applikation
  • Berücksichtigung verschiedenster Aspekte einer unbeaufsichtigten Langzeit-Datenerfassung
  • Offline-Datenanalyse mit handelsüblicher Software (Microsoft Excel, Microcal Origin)
LabVIEW-Applikation

Lösung

Entwurf des Messsystems (Zwei Switch System 2750 mit Einschubkarten 7702, 7705 und 7708 sowie zwei SourceMeter 2400 von Keithley Instruments). Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Ansteuerung der Messgeräte über GPIB und RS232.

ICAMS-Prüfstand (Isotropic Conductive Adhesive Measurement System)

ICAMS-Prüfstand (Isotropic Conductive Adhesive Measurement System)

Dieser Prüfstand erfasst und analysiert das Langzeitverhalten isotroper Klebeverbindungen und anderer Flip-Chip-Verbindungstechniken hinsichtlich ihrer Leitfähigkeit. Die zu messenden Widerstände liegen dabei unter 10 Milliohm. (Foto: Fraunhofer IZM)

Anforderungen

  • Implementierung in Klimakammer für Zyklentests
  • Temperaturfestigkeit der Verdrahtung bis über 100 °C
  • Bis zu 400-kanalige Messdatenerfassung
  • Messgenauigkeit unter einem Milliohm
  • Frei konfigurierbare Messungen
  • Automatischer Syntax-Check der eingegebenen Messkonfiguration
  • Automatischer Hardware-Check der vorgenommenen Verdrahtung
  • Graphische Visualisierung der Messdaten (wahlweise direkt während der Messung oder auch offline)
  • Automatisches Suchen und Überbrücken defekter Prüflinge
  • Einfache Anpassung der Software an zukünftige Anforderungen
  • Offline-Datenanalyse mit handelsüblicher Software
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Erfassung der Messdaten mit DMM 2010 und Switch Mainframe 7002 (Keithley Instruments) über GPIB und RS232. Verwendung von anspruchsvollen graphischen Visualisierungen (ZoomIn, ZoomOut). Die ermittelten Messdaten werden als gegliederte ASCII-Datei zur Verfügung gestellt.

Untersuchung der Elektromigration in Lotbumps

Untersuchung der Elektromigration in Lotbumps

Der Effekt der Elektromigration innerhalb von Chipkontaktierungen wird mit diesem Aufbau untersucht. Ziel ist der Nachweis dieser Migration durch eine Widerstandsanalyse im unteren Milliohmbereich. (Foto: Fraunhofer IZM)

Anforderungen

  • Realisierung des Testaufbaus in zwei eigenständigen Ketten, kontrolliert von einer Software
  • Implementierung in 2 getrennten Klimakammern für separate Zyklentests
  • Temperaturfestigkeit der Verdrahtung bis über 100 °C
  • 120-kanalige Messdatenerfassung
  • Messgenauigkeit unter einem Milliohm
  • Verifizierung und Ablage der Daten auf dem PC
  • Automatisches Suchen und Überbrücken defekter Prüflinge
  • Wahlfreies Abschalten einer Kette zur Prüflingsentnahme bzw. -austausch
  • Einfache Anpassung der Software an zukünftige Anforderungen
  • Offline-Datenanalyse mit handelsüblicher Software
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Steuerung und Messdatenerfassung mit zwei SourceMeter 2400 und Switch System 2750 (Keithley Instruments) via GPIB. Strikte Trennung der Softwaremodule für beide Ketten. Die ermittelten Messdaten werden als gegliederte ASCII-Datei zur Verfügung gestellt.

Messung der Lichtausbeute organischer LEDs / OLEDs

Messung der Lichtausbeute organischer LEDs / OLEDs

In Langzeitmessungen über mehrere Wochen werden Wirkungsgrad und Abstrahlintensität von bis zu 120 OLEDs simultan ermittelt und protokolliert. Die Ergebnisse dienen der qualitativen Beurteilung verschiedener OLED-Technologien.

Anforderungen

  • 240-kanalige Messdatenerfassung (zwei Messgrössen je OLED)
  • Halbautomatische Kalibrierung der OLEDs vor Teststart auf gleiche Lichtintensität
  • Verifizierung und Ablage der Daten auf dem PC
  • Graphische Visualisierung der Messdaten (wahlweise direkt während der Messung oder auch offline)
  • PASS/FAIL-Überwachung auf relative Intensitätsabweichungen
  • Einfache Anpassung der Software an zukünftige Anforderungen
  • Entnahme von Prüflingen aus der Prüfumgebung während der laufenden Messung zu analytischen Zwecken
  • Offline-Datenanalyse mit handelsüblicher Software
LabVIEW-Applikation

Lösung

Softwareentwicklung und Programmierung in LabVIEW (National Instruments). Erfassung der Messdaten mit DMM 2010 und Switch Mainframe 7002 (Keithley Instruments) via GPIB. Verwendung von anspruchsvollen graphischen Visualisierungen (Wahl der OLED, ZoomIn, ZoomOut). Die ermittelten Messdaten werden als gegliederte ASCII-Datei zur Verfügung gestellt.